산업용 현미경

LSI Inspection Microscope L200N/L200ND

- 8"Wafer/Mask 검사용 현미경

- 스테이지이송거리: 205mmx205mm

- 관찰모드: 명시야,암시야,편광,DIC,형광

- 배율: 10X~1500X(배율전환장치:자동)

- 소프트웨어및 카메라장착 가능

 - L200N(반사전용) L200ND(투과 반사 겸용)